<cite id="tdxhp"><em id="tdxhp"></em></cite>

        <mark id="tdxhp"><pre id="tdxhp"></pre></mark>

          <var id="tdxhp"></var>
          <var id="tdxhp"><strike id="tdxhp"></strike></var>

                    當前位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 等離子體-材料表面 >
                    相關(guān)文章/ RELATED ARTICLES
                    產(chǎn)品展示
                    • TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
                      TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。
                      時(shí)間:2023-11-22型號:TOF-qSIMS瀏覽量:9273
                    • EQS二次離子質(zhì)譜儀
                      離子分析質(zhì)譜儀/飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀可分析來(lái)自固體樣品的二次陰、陽(yáng)離子和中性粒子。采用技術(shù)的SIMS 探針,便于連結到現有的UHV表面科學(xué)研究反應室。
                      時(shí)間:2023-11-22型號:EQS瀏覽量:5175
                    • SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
                      二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描,自動(dòng)測量正、負和中性粒子。
                      時(shí)間:2023-11-22型號:SIMS Workstation瀏覽量:2567
                    • MAXIM濺射中性粒子質(zhì)譜儀
                      MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽(yáng)離子動(dòng)態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。 ·光柵控制,增強深度分析能力 ·所有能量范圍內,離子行程的小擾動(dòng),及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器
                      時(shí)間:2023-11-22型號:MAXIM瀏覽量:1710
                      共 4 條記錄,當前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉到第頁(yè) 
                    Contact Us
                    • 聯(lián)系QQ:52436437
                    • 聯(lián)系郵箱:info@extratech.com.cn
                    • 聯(lián)系電話(huà):010 5272 2415
                    • 聯(lián)系地址:北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235

                    掃一掃  微信咨詢(xún)

                    © 2024 英格海德分析技術(shù)有限公司 版權所有  備案號:京ICP備05008133號-4  技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    管理登陸    sitemap.xml

                    服務(wù)熱線(xiàn)
                    13501238067

                    微信掃一掃

                    精品欧美成人午夜人妻,户外刺激欧美日韩在线,亚洲理伦片精品无码不卡,国产成人亚洲综合A∨小说