<cite id="tdxhp"><em id="tdxhp"></em></cite>

        <mark id="tdxhp"><pre id="tdxhp"></pre></mark>

          <var id="tdxhp"></var>
          <var id="tdxhp"><strike id="tdxhp"></strike></var>

                    當前位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 等離子體-材料表面 > 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 > TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

                    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

                    簡(jiǎn)要描述:TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。

                    • 產(chǎn)品型號:TOF-qSIMS
                    • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
                    • 更新時(shí)間:2023-11-22
                    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:9273
                    詳細介紹
                    品牌其他品牌應用領(lǐng)域醫療衛生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè)

                    Hiden TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。


                    TOF-qSIMS Workstation 包含了四極桿質(zhì)譜和飛行時(shí)間質(zhì)譜。

                    四極桿qSIMS主要用于摻雜物深度剖析和薄層分析,低入射能力,高入射電流,濺射和分析連續進(jìn)行,是典型的Dynamic SIMS 動(dòng)態(tài)SIMS。

                    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜TOF-SIMS使用飛行時(shí)間質(zhì)譜,質(zhì)量數范圍寬,質(zhì)量分辨率高,且測量速度快(瞬間得到全譜)。離子槍僅需要一次脈沖濺射,即可得到全譜,對表面幾乎無(wú)破壞作用。因脈沖模式分析,且電流小,所以產(chǎn)生的二次離子比率相對少,靈敏度相比動(dòng)態(tài)SIMS弱,但成像和表面分析能力強,是典型的Stactic SIMS 靜態(tài)SIMS。


                    TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀綜合了Quadrupole SIMS 和 TOF-SIMS的優(yōu)點(diǎn),可以分析所有的導體、半導體、絕緣材料;對硅、高k、硅鍺以及III-V族化合物等復合材料的薄層提供超淺深度剖析、痕量元素和組分測量等一系列擴展功能。對于材料/產(chǎn)品表面成分及分布,表面添加組分、雜質(zhì)組分、表面多層結構/鍍膜成分、表面異物殘留(污染物、顆粒物、腐蝕物等)、表面痕量摻雜、表面改性、表面缺陷(劃痕、凸起)等有很好的表征能力。


                    一臺SIMS同時(shí)提供四極桿質(zhì)譜和飛行時(shí)間質(zhì)譜:

                    靜態(tài)SIMS  Static SIMS

                    動(dòng)態(tài)SIMS  Dynamic SIMS

                    Ar+, O2+, Cs+, Ga+ 等多種離子槍

                    樣品 3D成像分析

                    檢測限低于ppm

                    SNMS 離子源,二次中性粒子譜

                    二次離子質(zhì)譜成像軟件,靜態(tài)二次離子質(zhì)譜圖庫,二次離子質(zhì)譜后處理軟件

                     

                    技術(shù)參數:
                    質(zhì)量數范圍:300,510或1000amu
                    分辨率:5%的谷,兩個(gè)相連的等高峰。
                    檢測器:離子計數檢測器,正、負離子檢測
                    檢測限:1:10E7
                    質(zhì)量過(guò)濾器:三級過(guò)濾四極桿(9mm桿)
                    主離子槍?zhuān)?A,氧離子或其它氣體,能量到5KeV
                              B,Ga離子槍?zhuān)芰?5KeV(選配)
                    空間分辨率:A:100~150um
                               B: 50nm
                    取樣深度:2個(gè)單分子層(靜態(tài))
                             不受限制(動(dòng)態(tài))


                    主要特點(diǎn):
                    1、高靈敏度脈沖離子計數檢測器,7個(gè)數量級的動(dòng)態(tài)范圍
                    2、SIMS 成像,分辨率在微米以下
                    3、光柵控制,增強深度分析能力
                    4、所有能量范圍內,離子行程的最小擾動(dòng),及恒定離子傳輸
                    5、差式泵3級過(guò)濾四極桿,質(zhì)量數范圍至1000amu
                    6、靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器
                    7、Penning規和互鎖裝置可提供過(guò)壓保護
                    8、通過(guò)RS232、RS485或Ethernet LAN,軟件 MASsoft控制

                    產(chǎn)品咨詢(xún)

                    留言框

                    • 產(chǎn)品:

                    • 您的單位:

                    • 您的姓名:

                    • 聯(lián)系電話(huà):

                    • 常用郵箱:

                    • 省份:

                    • 詳細地址:

                    • 補充說(shuō)明:

                    • 驗證碼:

                      請輸入計算結果(填寫(xiě)阿拉伯數字),如:三加四=7
                    Contact Us
                    • 聯(lián)系QQ:52436437
                    • 聯(lián)系郵箱:info@extratech.com.cn
                    • 聯(lián)系電話(huà):010 5272 2415
                    • 聯(lián)系地址:北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235

                    掃一掃  微信咨詢(xún)

                    © 2024 英格海德分析技術(shù)有限公司 版權所有  備案號:京ICP備05008133號-4  技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    管理登陸    sitemap.xml

                    服務(wù)熱線(xiàn)
                    13501238067

                    微信掃一掃

                    精品欧美成人午夜人妻,户外刺激欧美日韩在线,亚洲理伦片精品无码不卡,国产成人亚洲综合A∨小说